江苏昆山涂层测厚仪leeb210

Leeb 210 Leeb211
测头类型 F1 N1
工作原理 磁感应 电涡流
测量范围 0~1250μm
低限分辨率 0.1μm
示值误差 一点校准 ±（3%H+1）
二点校准 ±[（1~3%)H+1]
测试条件 最小曲率半径mm 凸1.5
最小面积直径mm Φ7
基本临界厚度mm 0.5
工作环境 温度 0~40℃
湿度 20%~90%
磁场 无强磁场环境
电源 AAA型碱性电池1.5V两节
外形尺寸 115×70×30mm（主机）
重量 130g
技术参数如上，

测量原理如下，
对材料表面保护、装饰形成的覆盖层，如涂层、镀层、敷层、贴层、化学生成膜等，在有关国家和国际标准中称为覆层（coating）。覆层厚度测量已成为加工工业、表面工程质量检测的重要一环，是产品达到优等质量标准的必备手段。为使产品国际化，我国出口商品和涉外项目中，对覆层厚度有了明确的要求。覆层厚度的测量方法主要有：楔切法，光截法，电解法，厚度差测量法，称重法，X射线荧光法，β射线反向散射法，电容法、磁性测量法及涡流测量法等。这些方法中前五种是有损检测，测量手段繁琐，速度慢，多适用于抽样检验。X射线和β射线法是无接触无损测量，但装置复杂昂贵，测量范围较小。因有放射源，使用者必须遵守射线防护规范。X射线法可测极薄镀层、双镀层、合金镀层。β射线法适合镀层和底材原子序号大于3的镀层测量。电容法仅在薄导电体的绝缘覆层测厚时采用。 　　随着技术的日益进步，特别是近年来引入微机技术后，采用磁性法和涡流法的测厚仪向微型、智能、多功能、高精度、实用化的方向进了一步。测量的分辨率已达0.1微米，精度可达到1%，有了大幅度的提高。它适用范围广，量程宽、操作简便且价廉，是工业和科研使用最广泛的测厚仪器。采用无损方法既不破坏覆层也不破坏基材，检测速度快，能使大量的检测工作经济地进行。