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IC集成电路老化测试座

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产品简介

IC集成电路老化测试座
该产品用于航空航天、军工、科研单位以及集成电路生产企业,可配进口老化台、老化板做器件及高、低温测试、老化筛选作连接之用。 
产品型号及规格; 
4M-68J
主要技术指标; 
间距;1.27mm      环境温度;-55℃—+155℃    接触电阻;≤0.01欧     工作电压;DC500V 
单脚插入力;≤0.2Kg     弹片金层厚度;1um镍2um金  封装形式:CPGA
 

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